sartorius微量天平Cubis II

sartorius微量天平Cubis II

超高分辨率天平旨在滿足分析實驗室科學家不斷變化的需求。除了優質 Cubis II 天平現有的合規性和連接性功能外，

新型超高分辨率天平（高量程微量天平）在實驗室的實際條件下也能提供出色的稱量精度。新的軟件引導式清潔流程

全支持日常清潔期間的合規性需求。增加的軟件和硬件功能可在需要時實現更高級別的可升級性，為用戶提供全

的靈活性和投資安全性。

最大載樣量在 32 g 至111 g 之間，可讀性為 1 或2 ug，是稱量少量樣品到大去皮容器中的理想型號。

主要優勢

更快的結果可以節省時間并提供高度的可重復性，從而確保性能。

賽多利斯發明的第 4 代整體式稱重系統可實現更快的穩定時間并改善規格。

在實際實驗室條件下的穩健性能保證了易用性。

內置智能自適應系統，可管理溫度、濕度和氣壓變化，確保穩定的平衡行為。

消除靜電荷解決了您的靜電荷問題。

由于采用了新穎的電離技術和四個電離噴嘴的定位，全消除了靜電，并保證了快速的穩定時間。

可升級的負離子發生器和自動外防風罩。

購買后可自動安裝內部防風罩。

清理 QApp 提供分步指導。

直觀的指導確保無差錯的清潔。

審計跟蹤和合規性的一部分。

無需工具即可組裝，便于拆卸零件。

高耐化學性。

完整的內部系統

得益于稱重平臺的高容量。

技術數據

比例間隔 (d) mg 0.001

最大容量(最大值) g  32

5%負載下的重復性 mg 0.0015

最大值附近的重復性 mg 0.0025

耐受量 mg 0.012

典型值 mg 0.005

試驗重量 g 10

靈敏度在+10和+30之間漂移 ppm/K 1

天平分類

sartorius超微量和微量實驗室天平

sartorius超高分辨率高容量微量天平

sartorius半微量實驗室天平

sartorius分析實驗室天平

sartorius精密實驗室天平和秤

sartorius高容量實驗室天平和秤

sartorius微量天平Cubis II